Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 (8Н) с вертикальным тета-тета гониометром и горизонтальным положением образца позволяет проводить рентгенодифракционный анализ фазового состава, структурного состояния и ориентации широкого круга объектов различной формы и размера.
Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 (8Н)
Многофункциональный рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 (8Н) с вертикальным тета-тета гониометром и горизонтальным положением образца позволяет проводить рентгенодифракционный анализ фазового состава, структурного состояния и ориентации широкого круга объектов различной формы и размера.
- Description
- Характеристики
- Комплектация
- Опции
- Программное обеспечение
- Схема
- Чертежи
- Лабораторные отчеты
- Область применения
- Рекламные материалы
Характеристики
Комплектация
Базовая комплектация:
|
![]() |
Опции
Программное обеспечение
Программный комплекс для управления и сбора данных Data Collection
Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ №2016615887 |
Программный комплекс осуществляет управление различными конфигурациями дифрактометра, сбор данных в непрерывном или пошаговом режиме при различных алгоритмах взаимодействия управляемых механизмов и приводов, а также сохранение измеренных данных в виде файла данных различного формата. |
Программа имеет графический интерфейс для on-line визуализации измеряемых спектров, русскоязычный интерфейс со встроенной системой помощи на русском языке. |
Программа функционирует в операционной системе Windows 10. |
Она защищена от несанкционированного доступа, который может привести к искажению результатов измерений. |
Программный комплекс обеспечивает: |
|
![]() |
Специализированный программный комплекс для сбора и обработки данных обеспечивает (при наличии соответствующих приставок):
|
![]() |
![]() |
![]() |
Аналитическое программное обеспечение для обработки и анализа данных
Кристаллографический комплекс PDWin
|
|
Фазовый анализ по базам данных
Программное обеспечение для рентгенофазового анализа со встроенной картотекой порошковых стандартов | |
|
![]() |
«Качественный и количественный фазовый анализ по базе COD» | |
|
|
Другое аналитическое ПО
«Моделирование рефлектометрических кривых– XRR simulation» | |
|
![]() |
«Карты обратного пространства – RSM» | |
Программа предназначена для построения карт обратного пространства по данным с дифрактометра ДРОН-8/8Т, измеренным методом 2θ-Ω в геометрии высокого разрешения, построением профилей в различных направлениях, и их анализа. Область применения: рентгеноструктурный анализ тонких пленок. Программа реализует:
|
|
Схема
Чертежи
![]() |
![]() |
![]() |
Чертеж габаритный | Чертеж установочный | Требование к помещению |
Лабораторные отчеты
ПУБЛИКАЦИИ В СМИ
Область применения
НАУЧНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ | ПРОМЫШЛЕННОСТЬ | ЭКСПЕРТИЗА |
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА | МАШИНОСТРОЕНИЕ | ЭКОЛОГИЯ |
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ | МЕТАЛЛУРГИЯ | КРИМИНАЛИСТИКА |
ЯДЕРНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ | ГОРНОДОБЫВАЮЩАЯ ОТРАСЛЬ | ТАМОЖЕННАЯ ИНСПЕКЦИЯ |
ХИМИЯ | НЕФТЕПЕРЕРАБАТЫВАЮЩАЯ ОТРАСЛЬ | ОБЪЕКТЫ КУЛЬТУРНОГО НАСЛЕДИЯ |
НАНОТЕХНОЛОГИИ | АТОМНАЯ ПРОМЫШЛЕННОСТЬ | БЕЗОПАСНОСТЬ ПОЛЕТОВ |
ЭЛЕКТРОНИКА | СТРОИТЕЛЬСТВО И ПРОИЗВОДСТВО ЦЕМЕНТОВ | |
МОЛЕКУЛЯРНАЯ БИОЛОГИЯ | ОГНЕУПОРЫ И КЕРАМИКИ | |
МЕДИЦИНА | ХИМИЧЕСКИЙ СИНТЕЗ | |
КАТАЛИЗ | ||
ЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ | ||
НАНОИНДУСТРИЯ | ||
ФАРМАЦЕВТИКА | ||
ТЕХНИЧЕСКИЕ КРИСТАЛЛЫ |
Задачи и объекты
Объекты | Задачи |
Дисперсные материалы и порошки (природные и синтетические) | Качественный и количественный фазовый анализ Расчет метрики решетки Расчет размеров кристаллитов и микродеформаций Анализ текстур Анализ фазовых превращений, химических реакций и термических деформаций решетки |
Монолитные поликристаллические образцы (керамики, детали, конструкции, горные породы и.т.п) | Анализ остаточных напряжений Анализ текстур Фазовый анализ материалов Анализ структурных характеристик Картирование по поверхности |
Монокристаллы и изделия из них | Определение ориентации и качества Анализ метрики решетки |
Тонкие пленки, эпитаксиальные наногетероструктуры | Анализ состава, толщины и шероховатости Анализ рассогласования слоев Анализ метрики решетки |
Поликристаллические и дисперсные материалы | |
Фазовый анализ, кристалличность, параметры структуры
|
Анализ текстур и остаточных напряжений |
Монокристаллы и тонкие пленки | |
Анализ ориентации и качества монокристаллов, Ω-ϕ скан |
Малоугловые исследования и рефлектометрия
|